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了解光耦參數測試儀的原理
點擊次數：650 更新時間：2017-07-24
光耦性能指標測試測量儀形號：JFY3010A

JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用 方便,適用電子產品 或電子元件供應商來料檢測。
※ 測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※ 測量參數:

技術參數因素表:

主要參數項

檢驗性能參數

公測條件放置

鍵入正方向壓降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐沖擊(ji)(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

網絡傳輸比(bi)(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

達(da)到(dao)飽和狀態(tai)壓降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

輸出漏電流(Iceo)0-1mAVCE=20V
輸入反向漏電流(IR)0-1mAVR=4V
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