半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

 
該系列儀器的技術指標均滿足 計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求，整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上 的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵(chen)埃粒子數(shu)，并能選擇觀(guan)察(cha)其(qi)中某一(yi)粒徑粒子的數(shu)目及(ji)其(qi)變化(hua)情況，對于(yu)研究(jiu)、檢測和評價各種潔凈環境(jing)都十分方便(bian)。該系列儀器性能設計、質量穩定可靠

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

 
　　該系列(lie)產品已被(bei)廣泛(fan)應用于潔凈室(shi)檢測；過濾器現場(chang)檢測、撿漏；可監測凈工(gong)作臺、生(sheng)物 柜，HVAC系統(tong)，計算機室(shi)、飲料(liao)包裝環(huan)(huan)境(jing)，醫療器械 環(huan)(huan)境(jing)，醫院潔凈手術室(shi)，汽車(che)噴(pen)涂環(huan)(huan)境(jing)微電子(zi)、制藥、生(sheng)化制品、食品衛(wei)生(sheng)、精細化工(gong)、精密(mi)機械和航空航天等 和科研部門(men)，是制藥企業(ye)及(ji)其(qi)監督管(guan)理部門(men)貫徹(che)GMP規范及(ji)電子(zi) 企業(ye)的儀器。  

半導體激光塵埃粒子計數器 型號：CLJ-D

主要技(ji)術參(can)數及(ji)性能(neng)：

型號：CLJ-D

 
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國 標準技術協會（NIST），我公司已通過 計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方 計量機構進行校準
10.工作環境: 溫度:10～35℃ 相對溫度: 20～75%RH
11.zui大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數 2～7點設定
14.每點采樣次數 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注: 內置打(da)印機、自(zi)動判斷凈(jing)化等級、等動力(li)采(cai)樣(yang)頭、采(cai)樣(yang)架

型號：CLJ-D