SX1934D型二合一數字式四探針測試計 
 產品說明 
SX1934D型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業的篩選。 
產品特點 
 　　儀器由主(zhu)機(ji)(ji)、測(ce)試(shi)探(tan)頭（可選配測(ce)試(shi)臺）等(deng)部分(fen)組成，測(ce)試(shi)結果由數字表頭直(zhi)接顯示(shi)。主(zhu)機(ji)(ji)主(zhu)要由數控恒流源，高(gao)分(fen)辨(bian)率ADC、嵌入式單片機(ji)(ji)系統組成，自(zi)動轉(zhuan)換量程。測(ce)試(shi)探(tan)頭高(gao)分(fen)子(zi)材(cai)料和高(gao)耐磨(mo)碳(tan)化鎢探(tan)針制成，故定(ding)位準確、游(you)移率小(xiao)、壽命長(chang)。儀器具有測(ce)量精度(du)高(gao)、靈敏度(du)高(gao)、穩定(ding)性好、智(zhi)能化程度(du)高(gao)、測(ce)量簡便、結構緊湊、使用(yong)方便等(deng)特點(自(zi)動調(diao)零)。可鑒(jian)別半導體PN類別。