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講解微波光電導少子壽命測試儀方法
點擊次數：984 更新時間：2015-04-22

微波光電導少子壽命測試儀 微波光電導載流子復合壽命測試儀 型號： WJ-100A
產品簡介
WJ-100A型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及 標準GB/T 26068-2010設計制造。并且我單位是微波反射法 標準起草單位之一。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數載流子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體質量的重要檢測項目。
壽命測量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。
讀數方式：數字直讀。

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